| Titre : | Architecture et tests des circuits numériques |
| Type de document : | Monographie imprimée |
| Mention d'édition : | 2e éd. |
| Editeur : | Paris : Techniques de l'ingénieur, impr. 2013 |
| Collection : | Les Sélections (Techniques de l'ingénieur), ISSN 2258-2193 |
| ISBN/ISSN/EAN : | 978-2-85059-631-5 |
| Format : | 1 vol. (409 p.) / ill. en noir et en coul., couv. ill. en coul. / 30 cm |
| Note générale : | Notes bibliogr. |
| Langues: | Français |
| Index. décimale : | 621.381 5 |
| Catégories : |
[Agneaux] Électronique numérique > Fiabilité |
| Sommaire : |
Opérateurs logiques E180 Opérateurs logiques - Fondements E181 Opérateurs logiques - Opérateurs séquentiels E182 Réalisation des opérateurs logiques Architectures H1196 Architectures reconfigurables FPGA E3550 Microprocesseurs - Approche générale E3555 Microprocesseurs - Architecture et performances E3560 Microprocesseurs - Mise en œuvre et exemples d'application E3565 Processeurs de traitement numérique du signal (DSP) TE5990 Calcul généraliste sur carte graphique - Du rendu au calcul massivement parallèle Traitements numériques R1108 Filtrage numérique à base d’ondelettes - Fondements R1109 Filtrage numérique à base d’ondelettes - Applications en imagerie médicale E3087 Traitement numérique du signal - Signaux déterministes E3088 Traitement numérique du signal - Signaux aléatoires E3160 Filtres numériques - Synthèse E3162 Filtres numériques - Conversion de fréquences et bancs de filtres Conception et test E2452 Langages pour la conception des circuits intégrés E2455 Conception des systèmes VLSI E2460 Test des circuits intégrés numériques - Notions de base. Génération de vecteurs E2461 Test des circuits intégrés numériques - Conception orientée testabilité |
Disponibilité (1)
| Cote | Support | Localisation | Statut | Emplacement | |
|---|---|---|---|---|---|
| SI4/0651 (85) | Revue | BIB.FAC.ST. | Empruntable | Salle de mémoires et de théses |
Documents numériques (1)
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