| Titre : | Caractérisation des pièges profonds dans un composant a semi-conducteur par la méthode du photo-voltage en circuit ouvert ouvert FVD |
| Auteurs : | Nacer-Eddine Rahmani, Auteur ; Abderrazak Debilou, Directeur de thèse |
| Type de document : | Monographie imprimée |
| Editeur : | Biskra [Algerie] : Université Mohamed Kheider, 2002 |
| Format : | 58.P / Ill / 30/20 cm |
| Accompagnement : | CD |
| Note générale : | Bibliographie |
| Langues: | Français |
| Langues originales: | Français |
Disponibilité (1)
| Cote | Support | Localisation | Statut | Emplacement | |
|---|---|---|---|---|---|
| M/0989 | Memoire ingenieur | BIB.FAC.ST. | Empruntable | Salle de mémoires et de théses |
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