| Titre : | Caractérisation microstructurale des matériaux : analyse par les rayonnements X et électronique |
| Auteurs : | Claude Esnouf, Auteur |
| Type de document : | Monographie imprimée |
| Editeur : | Lausanne : Presses polytechniques et universitaires romandes, cop. 2011 |
| Collection : | METIS LyonTech |
| ISBN/ISSN/EAN : | 978-2-88074-884-5 |
| Format : | 1 vol. (XVI-579 p.) / ill., fig., graph., couv. ill. en coul. / 24 cm |
| Langues: | Français |
| Résumé : |
Cet ouvrage présente de façons exhaustive et pédagogique les bases physiques et méthodologiques de caractérisation des matériaux basées sur l'utilisation des rayonnements X et électronique. Rédigé par l'un des meilleurs spécialistes francophones du domaine, les six chapitres de cet ouvrage couvrent l'ensemble de la discipline, depuis l'exposé du langage spécialisé de la cristallographie jusqu'aux méthodes fines impliquant les grands instruments scientifiques. Les méthodes basées sur l'usage du rayonnement X et du rayonnement électronique et mettant en oeuvre la diffraction ou l'imagerie sont exposées en détail, tout comme les nombreux modes d'imagerie électronique. Un chapitre entier est par ailleurs dévolu à la présentation des spectroscopies utiles tant à la caractérisation d'ordre chimique que celle d'ordre structural.
Illustré de nombreux exemples et d'exercices résolus, ce manuel constitue une véritable référence pour les étudiants de second cycle d'écoles d'ingénieur, de Master, ainsi que pour les praticiens désireux d'approfondir leurs connaissances dans le domaine. |
| Sommaire : |
Éléments de cristallographie
Diffraction par les cristaux Radiocristallographie X Diffraction par les rayonnements corpusculaires Imagerie électronique Spectroscopies x et électronique Réseaux et groupes à deux dimensions Transformée de Fourier, produit de convolution et fonction de Patterson Coefficient de Debye-Waller Rappels sur la structure électronique d'un atome Optique diffractive : réseaux zonés et lentille de Fresnel Facteur de forme et géométrie du cristal Relation facteur de diffusion électronique et potentiel Facteur de diffusion électronique dans le modèle de Wentzel-Yukawa Correcteurs d'aberrations Compléments à l'imagerie de haute résolution Règle d'or de Fermi et sections efficaces de pertes Exercices et leurs solutions liste des symboles Liste des acronymes Définitions et valeurs de quelques grandeurs physiques |
Disponibilité (7)
| Cote | Support | Localisation | Statut | Emplacement | |
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| GC8/498 | Livre | BIB.DEP.ARCHITECTURE | Empruntable | ||
| GC8/498 | Livre | BIB.DEP.ARCHITECTURE | Empruntable | ||
| GC8/498 | Livre | BIB.DEP.ARCHITECTURE | Empruntable | ||
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| SI8/2217 | Livre | BIB.FAC.ST. | Empruntable | Magazin | |
| SI8/2217 | Livre | BIB.FAC.ST. | Empruntable | Magazin | |
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